Device

HF5000 TEM

  • Manufacturer:日立
  • Model:HF5000
  • Origin:日本
  • Asset Number:00222335
  • Year of Acquisition:2021
  • Location:创新港校区 躬行楼 1020室
  • Administrator:秦元斌 more
  • Tel:18629559280
  • 功能特色
  • 核心技术指标
  • 样品要求
  • 使用预约
  • 典型应用案例

    1、高度自动化STEM球差校正;

    2、高稳定、高亮度的冷场发射电子枪;

    3、三位一体呈现(TEM、STEM、SEM),内部结构成像和表面结构成像可同时进行;

    4、EDS超大球面角,无窗口探头。可实现快速,高灵敏度化学成分分析;

    5、可实现原位加热和气体环境实验;

    6、配有电子能量损失谱(EELS)。


    加速电压:60—200 kV

    STEM分辨率:0.078 nm

    TEM晶格分辨率:0.1 nm,点分辨率:0.23 nm

    能谱:无窗SDD能谱,2 x 100mm2,固体角2.0 Sr


    1.    样品清洁、干燥、无磁性,无悬浮颗粒,无液体;

    2.    严禁使用任何磁性纳米颗粒/粉末样品。

    预约网址:http://msetc.xjtu.ylab.cn


    * 注册预约账号前请先联系设备管理员(联系电话见上方简介)确认设备状态、预约规则及实验内容可行性。


    一.RuO2原位表征Nature Communication, 11, 1263 (2020)

     

    二.La0.4Sr0.6Co0.2Fe0.7Mo0.1O3-δ HAADF STEM图像及原子尺度元素Mapping. Angew. Chem. Int. Ed., 37, 15968-15973 (2020)

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