球差校正环境透射电子显微镜HF5000-西安交通大学-西北有色金属研究院-日立联合研发中心

设备

1、高度自动化STEM球差校正；

2、高稳定、高亮度的冷场发射电子枪；

3、三位一体呈现(TEM、STEM、SEM)，内部结构成像和表面结构成像可同时进行；

4、EDS超大球面角，无窗口探头。可实现快速，高灵敏度化学成分分析；

5、可实现原位加热和气体环境实验；

6、配有电子能量损失谱(EELS)。

加速电压：60—200 kV

STEM分辨率：0.078 nm

TEM晶格分辨率：0.1 nm，点分辨率：0.23 nm

能谱：无窗SDD能谱，2 x 100mm2，固体角2.0 Sr

1. 样品清洁、干燥、无磁性，无悬浮颗粒，无液体；

2. 严禁使用任何磁性纳米颗粒/粉末样品。

一．RuO2原位表征Nature Communication, 11, 1263 (2020)

二．La0.4Sr0.6Co0.2Fe0.7Mo0.1O3-δ HAADF STEM图像及原子尺度元素Mapping. Angew. Chem. Int. Ed., 37, 15968-15973 (2020)

* 注册预约账号前请先联系设备管理员（联系电话见上方简介）确认设备状态、预约规则及实验内容可行性。