点分辨率:0.19nm，线分辨率:0.14nm

样品可倾转角度：TX方向±30°，TY方向±30°

透射模式束斑直径2-5nm，分析模式束斑直径0.5-2.4nm

附件：STEM； EDS；EELS； PI95系列力学样品杆；Protochips热学样品杆

1）无磁性，无毒性，无放射性

2）常规表征：

标准Φ3mm透射样品，厚度小于80mm，薄区厚度小于200nm

颗粒、纤维分散后使用标准Φ3mm支持铜网制取

力学表征：FIB加工特定要求的试样形状

加热实验：FIB加工后制备于专用芯片上

[1]Wang, Y., Ding, J., Fan, Z. et al. Tension–compression asymmetry in amorphous silicon. Nat. Mater. 20, 1371–1377 (2021). https://doi.org/10.1038/s41563-021-01017-z

[2]Liu, BY., Zhang, Z., Liu, F. et al. Rejuvenation of plasticity via deformation graining in magnesium. Nat Commun 13, 1060 (2022). https://doi.org/10.1038/s41467-022-28688-9

* 注册预约账号前请先联系设备管理员（联系电话见上方简介）确认设备状态、预约规则及实验内容可行性。

预约网址：http://campnano.xjtu.ylab.cn